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布魯克的納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope為原子力顯微鏡領(lǐng)域提供了定量、剛性探針的納米壓痕和納米摩擦表征能力。納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope與布魯克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8聯(lián)用，以擴(kuò)展這些顯微鏡的表征能力。通過利用剛性測試探針，納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope消除了與懸臂基測量相關(guān)的固有限制、可變性和復(fù)雜性，從而在納米到微米尺度上提供定量和可重復(fù)的力學(xué)和摩擦特性。
剛性探針優(yōu)勢
大多數(shù) 原子力顯微鏡（AFM） 利用適當(dāng)?shù)膽冶圻M(jìn)行力學(xué)或摩擦學(xué)測試，在將懸臂的彈性和旋轉(zhuǎn)剛度與材料對施加應(yīng)力的反應(yīng)分離方面提出了重大挑戰(zhàn)。納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope采用剛性測試探頭組件，允許在測試期間直接控制和測量施加的力和位移。
專有靜電力驅(qū)動
納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope利用專有的靜電力驅(qū)動和電容位移感傳感器技術(shù)，提供業(yè)界**的噪聲水平和低熱漂移，從而將性能描述到納米級的極限。
力和位移反饋控制
納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope在閉環(huán)力控制或位移控制下工作。納米力學(xué)測試儀器Hysitron TS75 TriboScope利用 78 kHz 反饋環(huán)路速率，可以響應(yīng)快速材料變形瞬態(tài)事件，并忠實地再現(xiàn)操作員定義的測試功能。
